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    所謂偏光顯微鏡，就是只用一個(gè)偏光顯微鏡(通常用下偏光顯微鏡)觀察、側(cè)定晶體的先學(xué)性質(zhì)。晶體的某些特征，如形態(tài)、解理等，不用偏光顯微鏡也能觀察，但用一個(gè)偏光顯微鏡也不影響其效果，所以通常仍在單偏光顯微鏡下進(jìn)行觀察。

    單偏光顯微鏡下能夠觀察、側(cè)定的主要特征有以下三個(gè)方面:形態(tài)和解理;顏色和多色性;比較礦物折射率的相對高低等。

    一、晶體的形態(tài)

    礦物晶體的形態(tài)決定于它的化華成分、晶體結(jié)構(gòu)和生成條件。每一種晶體都具有一定的形態(tài)。但在工藝巖石切片中所見的礦物最形，并不是整個(gè)立體，而是一個(gè)切面。同一晶體由干切面方向不同，可以表現(xiàn)出各種不同形狀。在實(shí)際工作中必須綜合許多方向的切面，才能正確判斷晶體的形態(tài)。伍在柱狀、針狀或板狀晶體的切片中，近于縱切面和橫切面的形狀比較常見。

    二、解理及解理角的測定

    解理的觀察

    許多礦物部具有解理，但解理的方向、組處及完善程度并非全同，所以解組是鑒定礦物的一個(gè)重要依據(jù)。同時(shí)，解理面還往往與晶面、晶軸有一定的關(guān)系，所以解理還可以作為測定礦物某些光學(xué)常數(shù)的輔助條件或根據(jù)。

    礦物的解理面在薄片中是一些平行的細(xì)線，稱為解理縫。根據(jù)解理的完善提皮，一般分為以下三級:

    (1)極完善解理  解理縫細(xì)密而直長，如云母。

    (2)完善解理    解理縫雖清楚，但未完全聯(lián)貫，如輝石、角閃石。

    (3)不完善解理  解理縫斷斷續(xù)續(xù)，有時(shí)僅見痕跡，如橄欖石。